Badania mikrostruktury przy wykorzystaniu skaningowej mikroskopii elektronowej

Określenie morfologii powierzchni ciał stałych techniką SEM (m.in. obserwacje kształtu i analiza wielkości wtrąceń, analiza wad, pęknięć itp.).
Analiza składu chemicznego ciał stałych w mikroobszarach techniką spektroskopii promieniowania rentgenowskiego z dyspersją energii: jakościowa i ilościowa analiza składu chemicznego w mikroobszarach, rozkład zawartości pierwiastków wzdłuż linii przesuwu wiązki elektronowej (linescan) i z powierzchni (mapping) z wykorzystaniem spektrometru EDS.
Analiza topografii orientacji oraz identyfikacja fazowa materiałów krystalicznych za pomocą techniki dyfrakcji elektronów wstecznie rozproszonych (EBSD).
Analizy punktowe, liniowe oraz powierzchniowe pierwiastków z wykorzystaniem spektroskopii promieniowania X z dyspersją długości fal (WDS).

Dane kontaktowe:

dr inż. Małgorzata Perek-Nowak
tel: 12 617 45 99
e-mail: mperek@agh.edu.pl

dr inż. Paweł Pałka
tel: 12 617 50 74
e-mail: pawel.palka@agh.edu.pl

dr inż. Piotr Noga
tel. 12 617 26 45
e-mail: pionoga@agh.edu.pl

dr inż. Bartosz Sułkowski
tel: 12 617 45 97
e-mail: sul5@agh.edu.pl